7.5.4抗干扰能力482
7.5.5标签移动*大衰落率483
7.6超高频RFID标签的测试理论483
7.6.1标签芯片阻抗的测量483
7.6.2S参数分析485
7.6.3标签天线的阻抗测量方法探讨485
7.7标签基材复介电常数的测量488
7.7.1引言488
7.7.2波导传输法原理及仿真结果488
7.7.3矩形谐振腔法原理及仿真结果491
7.7.4微带线谐振法原理及仿真结果493
7.7.5微带线谐振法测试系统498
第8章外部场对标签天线的影响503
8.1标签天线受封装的影响503
8.1.1标签天线的基本类型503
8.1.2RFID标签天线的主要技术参数504
8.1.3仿真天线参数505
8.1.4标签的封装507
8.1.5天线封装对天线性能的影响509
8.2基本环境对RFID标签辐射的影响513
8.2.1温度对标签的影响513
8.2.2温度对标签操作的影响514
8.3湿空气介电常数的推导514
8.3.1不含水蒸气的空气的介电常数514
8.3.2饱和干蒸汽的介电常数515
8.3.3湿空气介电常数的计算516
8.3.4建模仿真516
8.3.5空气粉尘和水雾颗粒对电磁波的影响519
8.4雨、雪、冰对RFID标签的影响523
8.4.1随机雨介质的等效介电常数523
8.4.2水膜对标签的影响的软件仿真526
8.4.3冰雪对标签表面的影响530
8.5人体和金属对RFID标签天线的影响532
8.5.1金属对标签天线的影响532
8.5.2人体对RFID标签天线的影响533
8.5.3可用于人体环境的标签设计537
8.6纸基RFID包装箱的标签天线设计538
8.6.1包装箱环境对RFID标签天线的影响539
8.6.2RFID包装箱的设计540
8.6.3实物测试与结果541
8.7人体对标签天线的影响543
8.7.1天线结构543
8.7.2仿真与测量结果544
附录1标签天线芯片的相关参数——以M4为例546
附录2天线外形参考资料547
参考文献558

无源超高频标签天线工程设计案例教程 作者简介

田川：博士就读于清华大学，高级工程师，获全军科技进步奖8项，二等奖2项；发表论文30余篇，EI级以上10篇；获得RFID相关专利30余项。 尹祖伟：博士就读于清华大学，软件工程专业（物联网方向），长期从事物联网产品研发工作，技术管理经验丰富，曾获省部级科技进步奖多项，并担任国际著名学术期刊审稿人，担任多个大型物联网项目负责人。

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