11.1单层膜和多层膜共面x射线衍射
11.2埋层的探测
11.2.1高分辨x射线衍射
11.2.2x射线镜面反射
参考文献
第12章外延膜的晶格参数？应力与组分麦振洪
12.1共面x射线双轴晶衍射
12.2薄膜残余应力检测的x射线mapping技术
12.3掠入射衍射
参考文献
第13章薄膜表面与界面李明麦振洪罗光明
13.1x射线镜面反射
13.1.1氧化物薄膜界面
13.1.2磁性金属多层膜界面
13.1.3batio3/pt 界面的“dead layer”
13.2x射线漫散射
13.2.1znte/znsxte1-x超晶格中的生长台阶
13.2.2长周期bete/znse超晶格界面台阶上的无规起伏
13.2.3短周期bete/znse超晶格界面的化学键
13.3x射线异常衍射精细结构
13.3.1埋层量子线
13.3.2在金属多层膜中的应用
参考文献
第14章横向调制结构李建华贾全杰
14.1表面栅格结构
14.2横向成分调制结构
14.3量子线结构
14.4量子点结构
14.5原子有序结构
参考文献
第15章外延膜中的缺陷李建华李明麦振洪
15.1倒易空间x射线散射强度分布
15.2应变弛豫
15.2.1晶格失配应变
15.2.2成分梯度应变
15.3失配位错
15.3.1位错的x射线漫散射
15.3.2低密度位错
15.3.3高密度位错
15.4x射线反射形貌术
15.4.1bergbarrett反射形貌术
15.4.2双轴晶形貌术
参考文献
第16章软物质薄膜与界面李明罗光明
16.1液体薄膜与界面
16.1.1实验方法
16.1.2液体薄膜
16.2固/液界面的磷脂多层膜
16.2.1磷脂多层膜结构的x射线散射研究
16.2.2磷脂多层膜的溶胀
16.3表面活性剂多层膜
16.3.1水对硬脂酸膜界面起伏的影响
16.3.2lb膜的界面粗糙化与生长动力学
16.4小分子及离子相关液体界面
16.5三价态离子在水/空气界面的结构
参考文献
第17章薄膜晶体结构的表征和测定刘华俊杨平
17.1布拉维晶胞和点阵参数的测定
17.1.1rsv法
17.1.2六维矢量法(g6空间法)
17.1.3实验条件和分辨率
17.1.4外延薄膜结构实例
17.1.5讨论
17.2晶粒，孪晶，调制结构和点阵参数
17.2.1晶粒和相界
17.2.2单斜孪晶在rsm图上的行为
17.2.3四方相a畴和c畴的行为
17.2.4调制结构
17.2.5四方相a畴，c畴的模拟和三方相纳米孪晶的讨论
17.3氧八面体转动的测定
17.3.1钙钛矿结构
17.3.2氧八面体转动的glazer分类
17.3.3半指数晶面衍射法
17.3.4结构分析实例
17.4cobra界面结构分析方法
17.4.1表面衍射与晶体截断杆
17.4.2cobra原理与方法
17.4.3结构分析实例
17.5外延薄膜的单晶结构分析
17.5.1单晶结构分析方法
17.5.2薄膜分析的困难
17.5.3实验方法与数据处理
17.5.4结构分析实例
17.6结语
参考文献
第18章钙钛矿结构氧八面体畸变的x射线表征吴小山
18.1钙钛矿氧化物的特殊电子结构
18.2过渡金属钙钛矿氧化物中八面体畸变的x射线表征方法
18.3扩展x射线吸收精细结构方法
18.4掠入射反射在界面氧八面体结构畸变中的应用
18.4.1掠入射反射确定膜厚
18.4.2x射线漫散射技术
18.4.3晶体截断杆技术
18.5高分辨衍射技术
18.5.1高分辨衍射
18.5.2倒易空间x射线散射强度分布图
参考文献
第19章有机半导体薄膜晶体结构的表征张吉东
19.1有机半导体简介
19.2有机半导体薄膜的受限结晶
19.2.1有机半导体材料的结晶结构
19.2.2有机半导体材料在薄膜中的受限结晶
19.3有机半导体薄膜结晶结构的x射线衍射表征技术
19.3.1常规x射线衍射技术
19.3.2x射线掠入射衍射技术
19.4有机半导体薄膜结晶结构的x射线衍射表征
19.4.1有机半导体薄膜的三维结晶结构
19.4.2归属有机半导体薄膜的晶型
19.4.3有机半导体薄膜的精细结构差别
19.4.4有机半导体薄膜的结晶度
19.4.5有机半导体薄膜的取向表征
19.4.6有机半导体薄膜结晶结构演变的实时表征
参考文献
索引

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