统计过程控制理论与实践 本书特色

本书是针对制造过程质量控制方面的实用教材。全书以电子元器件为对象，基于质量可靠性的基本理念，全面论述在制造过程中实施质量控制与评价的必要性、基本概念和原理,以及关键技术与应用。本书重点介绍SPC、Cpk、DOE、MSA和PPM技术的基本原理和应用方法，并结合案例，剖析在实际应用过程中出现的特殊问题和解决途径，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。本书介绍的基本原理和应用技术也适用于各类制造过程的质量控制和评价。 本书可作为高等学校相关专业的教材、参考用书，同时对从事质量与可靠性工作的技术人员和管理人员也是一本实用的参考资料。

统计过程控制理论与实践 目录

第１章 概论
1.1 关于产品质量可靠性的基本理念
1.1.1 保证、评价产品质量可靠性常规方法存在的问题
1.1.2 关于质量可靠性的基本理念
1.1.3 保证和评价产品质量可靠性的相关技术
1.2 生产过程统计质量控制的技术流程
1.2.1 制造过程对参数一致性和稳定性的影响
1.2.2 统计过程控制的目的和相关技术
1.2.3 实施质量控制的技术流程
1.2.4 实施SPC的基本条件
思考题与习题
第2章 工序能力指数与6σ设计
2.1 预备知识——工艺参数分布规律的定量描述
2.1.1 正态分布函数
2.1.2 正态分布特征值的统计特性
2.2 工序能力的定量表征和工序能力指数
2.2.1 工艺参数一致性与工序能力
2.2.2 工序能力指数（Cp）
2.2.3 实际工序能力指数(Cpk)
2.2.4 工业生产对工序能力指数的要求
2.3 工序能力指数的计算
2.3.1 均值(μ)和标准偏差(σ)的计算方法
2.3.2 工序能力指数计算实例
2.4 6σ设计与等效工序能力指数
2.4.1 从工序能力指数理解6σ设计的含义和目标
2.4.2 pσ设计水平与DPMO
2.4.3 基于6σ设计理念的ECpk
2.4.4 ECpk计算中涉及的两个算法
思考题与习题
第3章 工序能力指数评价的特殊模型
3.1 工序能力指数常规计算方法的适用条件
3.2 非正态分布工艺参数的工序能力指数计算方法
3.2.1 非正态分布工艺参数数据
3.2.2 计算方法一：基于数据转换的计算方法
3.2.3 计算方法二：基于工艺成品率的计算方法
3.2.4 非正态分布参数工序能力指数计算方法讨论
3.3 多参数情况工序能力指数计算方法
3.3.1 多变量工序能力指数MCpk计算思路
3.3.2 MCpk计算步骤
3.3.3 MCpk应用实例
3.3.4 多元正态分布函数的高精度积分算法
3.4 计件值工序能力指数
3.4.1 描述计件值数据分布规律的二项分布
3.4.2 计件值工序能力指数的计算思路
3.4.3 计件值工序能力指数计算方法一： 每批样本量相同
3.4.4 计件值工序能力指数计算方法二： 每批样本量不相同
3.5 计点值工序能力指数
3.5.1 描述计点值数据分布规律的泊松分布
3.5.2 计点值工序能力指数的计算思路
3.5.3 计点值工序能力指数计算方法一： 每批样本量相同
3.5.4 计点值工序能力指数计算方法二： 每批样本量不相同
思考题与习题
第4章 统计过程控制与常规控制图
4.1 SPC与控制图
4.1.1 SPC基本概念
4.1.2 “统计受控”与“加工结果是否合格”的关系
4.1.3 控制图的结构和作用
4.1.4 控制限的计算原理
4.1.5 工艺过程受控/失控状态的判断规则
4.1.6 常规控制图的分类
4.2 常规计量值控制图
4.2.1 “均值—标准偏差”控制图
4.2.2 “均值—极差”控制图
4.2.3 “单值—移动极差”控制图
4.3 常规计件值控制图
4.3.1 不合格品数控制图(np图)
4.3.2 不合格品率控制图(p图)
4.3.3 通用不合格品率控制图(p???T图)
4.4 常规计点值控制图
4.4.1 缺陷数控制图（c图）
4.4.2 单位缺陷数控制图（u图）
4.4.3 通用单位缺陷数控制图(u?T图)
4.5 常规控制图的应用
4.5.1 关于“分析用控制图”与“控制用控制图”
4.5.2 常规计量值控制图应用实例
4.5.3 常规计数值控制图应用实例
思考题与习题

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