工程测试与信息处理-(第2版)-(含光盘)
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工程测试与信息处理-(第2版)-(含光盘)作者：狄长安 开 本：16开 书号ISBN：9787118066203 定价：36.0 出版时间：2010-06-01 出版社：国防工业出版社 |
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