电子元器件检测与代换一看就会-(含视频光盘1张 含学习卡1张)

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电子元器件检测与代换一看就会-(含视频光盘1张 含学习卡1张)

电子元器件检测与代换一看就会-(含视频光盘1张 含学习卡1张)

作者:韩雪涛

开 本:32开

书号ISBN:9787121301711

定价:68.0

出版时间:2017-01-01

出版社:电子工业出版社


5.3.2 二极管制作材料的检测判别方法(P107)
5.3.3 整流二极管的检测方法(P107)
5.3.4 稳压二极管的检测方法(P108)
5.3.5 发光二极管的检测方法(P109)
5.3.6 光敏二极管的检测方法(P111)
5.3.7 检波二极管的检测方法(P112)
5.3.8 双向触发二极管的检测方法(P112)
5.3.9 二极管的代换方法(P115)

第6章 三极管的种类、特点与检测代换方法(P122)
6.1 三极管的功能特点与参数识别(P122)
6.1.1 三极管的功能特点(P122)
6.1.2 三极管的参数识别(P127)
6.2 常见的三极管(P131)
6.2.1 小功率、中功率和大功率三极管(P131)
6.2.2 低频三极管和高频三极管(P131)
6.2.3 塑料封装三极管和金属封装三极管(P132)
6.2.4 锗三极管和硅三极管(P133)
6.2.5 其他类型的三极管(P133)
6.3 三极管的检测与代换(P134)
6.3.1 NPN型三极管引脚极性的检测判别方法(P134)
6.3.2 PNP型三极管引脚极性的检测判别方法(P137)
6.3.3 NPN型三极管好坏的检测方法(P140)
6.3.4 PNP型三极管好坏的检测方法(P141)
6.3.5 三极管放大倍数的检测方法(P142)
6.3.6 三极管特性参数的检测方法(P145)
6.3.7 三极管交流小信号放大器波形的检测方法(P147)
6.3.8 交流小信号放大器三极管的检测方法(P148)
6.3.9 三极管直流电压放大器的检测方法(P150)
6.3.10 驱动三极管的检测方法(P151)
6.3.11 三极管光控照明电路的检测方法(P152)
6.3.12 光敏三极管的检测方法(P153)
6.3.13 三极管的代换方法(P155)

第7章 晶闸管的种类、特点与检测代换方法(P158)
7.1 晶闸管的功能特点与参数识别(P158)
7.1.1 晶闸管的功能特点(P158)
7.1.2 晶闸管的参数识别(P160)
7.2 常见的晶闸管(P163)
7.2.1 单向晶闸管(P163)
7.2.2 双向晶闸管(P165)
7.2.3 单结晶闸管(P166)
7.2.4 可关断晶闸管(P166)
7.2.5 快速晶闸管(P167)
7.2.6 螺栓型晶闸管(P167)
7.3 晶闸管的检测与代换(P168)
7.3.1 单向晶闸管引脚极性的检测判别方法(P168)
7.3.2 单向晶闸管触发能力的检测方法(P169)
7.3.3 双向晶闸管触发能力的检测方法(P171)
7.3.4 双向晶闸管正、反向导通特性的检测方法(P174)
7.3.5 晶闸管的代换方法(P175)

第8章 场效应晶体管的种类、特点与检测代换方法(P177)
8.1 场效应晶体管的功能特点与参数识别(P177)
8.1.1 场效应晶体管的功能特点(P177)
8.1.2 场效应晶体管的参数识别(P178)
8.2 常见的场效应晶体管(P182)
8.2.1 结型场效应晶体管(JFET)(P182)
8.2.2 绝缘栅型场效应晶体管(MOSFET)(P184)
8.3 场效应晶体管的检测与代换(P187)
8.3.1 搭建电路测试场效应晶体管的驱动放大特性(P187)
8.3.2 搭建电路测试场效应晶体管的工作状态(P188)
8.3.3 结型场效应晶体管放大能力的检测方法(P190)
8.3.4 绝缘栅型场效应晶体管放大能力的检测方法(P191)
8.3.5 场效应晶体管的代换方法(P192)
第9章 集成电路的种类、特点与检测代换方法(P197)
9.1 集成电路的功能特点与参数识别(P197)
9.1.1 集成电路的功能特点(P197)
9.1.2 集成电路的参数识别(P198)
9.2 常见的集成电路(P204)
9.2.1 金属壳封装(CAN)集成电路(P204)
9.2.2 单列直插式封装(SIP)集成电路(P204)
9.2.3 双列直插式封装(DIP)集成电路(P205)
9.2.4 扁平封装(PFP、QPF)集成电路(P205)
9.2.5 插针网格阵列封装(PGA)集成电路(P205)
9.2.6 球栅阵列封装(BGA)集成电路(P206)
9.2.7 无引线塑料封装(PLCC)集成电路(P206)
9.2.8 芯片缩放式封装(CSP)集成电路(P207)
9.2.9 多芯片模块封装(MCM)集成电路(P207)
9.3 集成电路的检测与代换(P208)
9.3.1 三端稳压器的检测方法(P208)
9.3.2 运算放大器的检测方法(P212)
9.3.3 音频功率放大器的检测方法(P217)
9.3.4 微处理器的检测方法(P221)
9.3.5 集成电路的代换方法(P227)信息

电子元器件检测与代换一看就会-(含视频光盘1张 含学习卡1张) 作者简介

1958-1961 天津五中1961-1963 解放军外语学院 1963-1986 总参第57研究所中国电子学会现代教育技术分会常委,中国电子学会广播电视学会分会委员。《运用现代教育手段进行远程教育》课题负责人。《多媒体技术与职业教育》课题负责人。

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