大气中子在先进存储器件中引起的软错误
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大气中子在先进存储器件中引起的软错误作者：中村刚史 开 本：16开 书号ISBN：9787118102840 定价：89.0 出版时间：2015-10-01 出版社：国防工业出版社 |
工业技术 航空、航天
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