4.4.5连续扫描/086

4.4.6扫描范围/087

4.5实验方法和数据处理方法对实验结果的影响/087

4.6X射线的安全与防护/088

参考文献/089



第5章物相定性分析091

5.1物相定性原理和ICDD数据库/091

5.1.1物相定性分析的原理和方法/091

5.1.2粉末衍射卡组(PDF)及其索引/092

5.1.3PDF数据库/96

5.2定性分析的步骤/100

5.2.1实验获得待检测物质的衍射数据/100

5.2.2数据观测与分析/101

5.2.3检索和匹配/101

5.2.4*后判断/101

5.2.5具体示例/102

5.3定性分析的计算机检索/104

5.3.1PCPDFWIN定性相分析系统的应用/104

5.3.2Jade 定性相分析系统的应用/109

5.3.3人工检索和计算机检索的比较/115

5.4复相分析和无卡相分析/1165

5.4.1复相分析/118

5.4.2无卡相分析/120

5.5物相定性分析中应注意的问题/122

参考文献/124



第6章物相定量分析125

6.1多晶物相定量分析原理/125

6.1.1单相试样衍射强度的表达式/126

6.1.2多重性因数/126

6.1.3结构因数/126

6.1.4温度因数/127

6.1.5吸收因数/128

6.1.6衍射体积/128

6.1.7多相试样的衍射强度/129

6.2采用标样的定量相分析方法/130

6.2.1内标法/131

6.2.2增量法/134

6.2.3外标法/142

6.2.4基体效应消除法（K值法）/147

6.2.5标样方法的实验比较/151

6.3无标样的定量相分析方法/152

6.3.1直接比较法/152

6.3.2绝热法/154

6.3.3Zevin的无标样法及其改进/156

6.3.4无标样法的实验比较/164

6.4定量分析的*新进展和注意的问题/165

6.4.1定量分析的*新进展/165

6.4.2Rietveld定量分析/167

6.4.3X射线物相定量分析中应注意的问题/169

参考文献/170



第7章指标化和晶胞参数的测定171

7.1多晶衍射图的指标化/171

7.1.1 已知精确晶胞参数时衍射线的指标化/171

7.1.2已知粗略晶胞参数时衍射线的指标化/171

7.1.3指标立方晶系衍射图的sin2θ比值法/172

7.1.4指标四方和六方晶系衍射图的图解法/172

7.1.5指标未知晶系衍射图的尝试法/175

7.1.6指标未知晶系衍射图的伊藤法(Ito)/175

7.2晶胞参数的精确测定/177

7.2.1德拜-谢乐照相法/179

7.2.2聚焦相机法/183

7.2.3衍射仪法/184

参考文献/184



第8章纳米材料微结构的X射线表征185

8.1谱线线形的卷积关系/185

8.2微晶宽化与微应力宽化效应/186

8.2.1微晶宽化效应——谢乐公式/186

8.2.2微应力引起的宽化/188

8.3分离微晶和微应力宽化效应的各种方法/188

8.3.1Fourier级数法/188

8.3.2方差分解法/190

8.3.3近似函数法/191

8.3.4前述几种方法的比较/191

8.4堆垛层错引起的宽化效应/192

8.4.1密堆六方的堆垛层错效应/192

8.4.2面心立方的堆垛层错效应/192

8.4.3体心立方的堆垛层错效应/193

8.4.4分离密堆六方ZnO中微晶-层错宽化效应的Langford方法/194

8.5分离多重宽化效应的*小二乘法/195

8.5.1分离微晶-微应力宽化效应的*小二乘法/195

8.5.2分离微晶-层错宽化效应的*小二乘法/196

8.5.3分离微应力-层错二重宽化效应的*小二乘法/197

8.5.4分离微晶-微应力-层错三重宽化效应的*小二乘法/198

8.5.5计算程序的结构/200

8.6应用举例/201

8.6.1MmB5储氢合金微结构的研究/202

8.6.2纳米NiO的制备和微结构的表征/204

8.6.3纳米Ni粉的制备和微结构的表征/205

8.6.4V-Ti合金在储放氢过程中的微结构研究/207

8.6.5β-Ni(OH)2中微结构的研究/209

8.6.6纳米ZnO微结构的研究/218

8.6.7Mg-Al合金的微结构研究/220

8.6.8石墨堆垛无序度的研究/222

8.6.9应用小结/227

参考文献/228



第9章Rietveld结构精修原理与方法230

9.1Rietveld方法的发展史/231

9.2Rietveld方法的基本原理/232

9.2.1Rietveld方法的算法/233

9.2.2Rietveid方法结果的评价/234

9.3Rietveld方法中衍射峰的线形分析/235

9.3.1峰形函数分析方法/235

9.3.2峰形函数拟合/235

9.3.3微结构分析/237

9.4Rietveld分析中的校正/238

9.4.1择优取向校正/238

9.4.2微吸收校正/239

9.4.3背底修正/240

9.5Rietveld方法的晶体结构分析/240

9.6Rietveld方法的相定量分析/241

9.7Rietveld方法的指标化和相分析/242

9.8Rietveld分析的实验方案/243

9.8.1仪器的选择/243

9.8.2波长和衍射数据范围选择/243

9.8.3步进方式选择/244

9.9Rietveld精修的步骤和策略/245

参考文献/247



第10章粒度分布和分形结构的小角散射测定250

10.1小角X射线散射理论简介/250

 2/3   首页 上一页 1 2 3 下一页 尾页

工业技术 一般工业技术

在线阅读