纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化:从电路级到系统级
纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化:从电路级到系统级作者:靳松、韩银和 开 本:其他 书号ISBN:9787302522997 定价:69.0 出版时间:2018-06-01 出版社:清华大学出版社 |
10.2.2任务迁移算法
10.3实验结果及分析
10.3.1实验配置及说明
10.3.2实验结果
10.4结论
参考文献
纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化:从电路级到系统级 作者简介
靳松:博士,副教授,硕士生导师。2007.9-2011.7 在中科院计算所攻读博士学位。毕业后进入华北电力大学电气与电子工程学院电子与通信工程系任教。研究方向为可靠计算,大规模集成电路设计、测试及验证。讲授数字电子技术基础和嵌入式系统设计课程。作为负责人主持国家自然科学基金一项、河北省自然科学基金两项、横向课题若干。发表SCI检索论文十余篇,EI检索期刊和会议论文三十余篇。
韩银和:博士,研究员。2006年在中科院计算所获得博士学位并进入中科院计算所计算机体系结构国家重点实验室工作。主持多项国家“863”和自然科学基金项目,迄今在国际国内有影响的期刊和会议上发表论文70余篇。
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